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F2-RT 光譜反射和透射測(cè)量系統(tǒng)是美國(guó)Filmetrics新推出的物超所值同時(shí)測(cè)量反射率和透射率的儀器。

Filmetrics F10-ARc薄膜分析儀 目標(biāo)光譜與多條反射光譜比較 – 自動(dòng)評(píng)估反射率，*小/*大位置，并得出明確的讀數(shù)結(jié)論。大 大的減少了人為造成的讀數(shù)和計(jì)算誤差。

Filmetrics 自動(dòng)化厚度測(cè)量?jī)x能以每秒測(cè)繪兩個(gè)點(diǎn)的速度快速的測(cè)繪薄膜厚度，一般較短的波長(zhǎng) （例如， F50-UV） 可用于測(cè)量較薄的薄膜，而較長(zhǎng)的波長(zhǎng)則可以用來(lái)測(cè)量更厚、更不平整以及更不透明的薄膜。

Filmetrics 薄膜厚度測(cè)量?jī)xF10-HC薄膜測(cè)量系統(tǒng)，能夠快速的分析薄膜 的反射光譜資料并提供測(cè)量厚度，加上F10-HC軟件*的先進(jìn)模擬演算法的設(shè)計(jì)，能夠在厚膜中測(cè)量單層與多層（例如：底漆或硬涂層等）。

不論您是想要知道薄膜厚度、光學(xué)常數(shù)，還是想要知道材料的反射率和透過率，F(xiàn)ilmetrics薄膜厚度測(cè)量?jī)xF20都能滿足您的需要。僅需花費(fèi)幾分鐘完成安裝，通過USB連接電腦，設(shè)備就可以在數(shù)秒內(nèi)得到測(cè)量結(jié)果。

Thetametrisis自動(dòng)化光學(xué)膜厚儀 FR-Scanner自動(dòng)化超高速薄膜厚度測(cè)量?jī)x是一種緊湊的臺(tái)式工具，適用于自動(dòng)測(cè)繪晶圓片上的涂層厚度。FR-Scanner 可以快 速和準(zhǔn)確測(cè)量薄膜特性:厚度，折射率，均勻性，顏色等。真空吸盤可應(yīng)用于任何直徑或其他形狀的樣片。